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Graduate School of Engineering/Department of Mechanical Engineering and Science /
Materials Science Laboratory

電界放出型透過型電子顕微鏡(FE-TEM)




・FEI製 Tecnai G2F30

透過型電子顕微鏡(TEM)




・日本電子製 JEM-2100

電界放出型走査型電子顕微鏡(FE-SEM)




・日立ハイテクノロジーズ製 S-5500

TEM用微小負荷装置




・Nanofactory Instruments AB製 TEM-nanoindenter

SEM用微小負荷装置




・Nanofactory Instruments AB製 SEM holder

集束イオンビーム加工装置(FIB)




・日立ハイテクノロジーズ製 FB-2200

原子間力顕微鏡(AFM)+微小負荷装置




・AFM:島津製作所製 SPM-9500J
・微小負荷装置:Hysitron製 Triboscope

動的斜め蒸着装置




・エイコー製

共振振動疲労試験装置




・レーザードップラー変位計:
 小野測器製 LV-1720
・ファンクションジェネレータ:
 NF回路設計製 DF1906
・オシロスコープ:
 GW INSTEK製 GDS-1022
・制御プログラム:
 National Instruments製 LabView

デジタルマイクロスコープ




・キーエンス製 VHX-2000

卓上型走査型電子顕微鏡(SEM)




・ヴェールミー製 Tiny SEM M3-i

イオンミリング装置




・日立ハイテクノロジーズ製 Gentle mill-Hi
 (Linda社 Gentle mill)

真空炉




・ULVAC製 MILA-3000

恒温恒湿炉




・ヤマト科学製 IW222

スパッタ装置




・Eiko製 IB-3

微小硬さ試験機




・島津製作所製 MCTE-500



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